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掲載日：2025年3月31日
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集束イオンビーム加工観察装置による試験
| 大分類／中分類 | 材料試験／組織試験 |
|---|---|
| 試験の内容 | 任意微小部の断面加工及び観察。 |
| 成績書の内容 | 写真 |
| 試料持込時の注意 | 顕微鏡に導入可能なサイズはφ25mm（径）×20mm（高さ）程度です。 導入サイズへの切断は当センターでも可能ですが、大きさ・材質によっては事前に切断をお願いする場合がありますので、切断する前にまず担当者と相談してください。 真空中での観察になるため、含水・含油状態での観察はできません。 |
| その他の注意 | 別途、試験片調製の料金をいただく場合があります。詳しくは担当者と相談してください。 |
| 備考 | 機器仕様および外観は、試験研究機器のページを参考にしてください。 |
| 単位 | 1ヶ所 10μm×10μm以内 |
| 金額 | 28,300円 （1ヶ所（10μm×10μm以内）増すごとに17,000円を加える。） |
| 主な仕様 | 倍率：×30～×300,000（FIB）、×20～×1,000,000（SEM） ステージ範囲：X:50mm,Y:50mm,Z:1.5～41mm T:-5°～70° |
※詳しい試験内容や試料、測定条件等については、ご相談・お問い合わせください。
※試料を加工、採取する前に、一度お問い合わせください。
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